Laboratorio de calibración acreditado por ema, a.c. con acreditación No. D-85
| Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Incertidumbre | Unidad de medida | Patrón de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Calibradores digitales, con escala vernier y analógicos | 0 mm a 1 016 mm, resolución 0.01 mm | Temperatura (20 ± 1)°C | (14 + 0.01L) L en mm | μm | Bloques patrón de longitud de grado K, 0 y 1 Según la norma NMX-CH-3650-2004 y grado 1 según la norma ASME B89.1.9-2002 | Luis Ignacio García Márquez Azucena Hernández Sánchez Ana Isabel Vega Ramírez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Unidad de medida | Patrón de medida | Signatarios |
Longitud | Micrómetro de exteriores analógicos, con escala vernier y digitales | 0 a 508 mm, resolución 0.001 mm | (20 ± 1)°C | (0.7 + 0.02L) µm L en mm | μm | Bloques patrón de longitud de grado K Según la norma NMX-CH-3650-2004 y grado k según la norma ASME B89.1.9-2002 | Luis Ignacio García Márquez Azucena Hernández Sánchez Ana Isabel Vega Ramírez |
Servicio | Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Incertidumbre | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Servicio de calibración de bloques patrón de longitud en Acero | Longitud (Dimensional) | Bloques patrón longitudinales de grados de exactitud “0, 1, 2” según NMX-CH-3650 y grados “0, AS-1, AS-2” según ASME-B 89.1.9 2002. Desviación de longitud central | 0.508 mm a 101.6 mm | Temperatura (20 ± 0.5)°C | 0.027 a 0.099 | Bloques patrón de longitud de grado “K” Según la norma NMX CH-3650-2004 y grado 1 según la norma GGG-G-15C, Comparador Electromecánico TESA, resolución 0.02 µm | μm | Luis Ignacio García Márquez Azucena Hernández Sánchez |
Servicio de calibración de bloques patrón de longitud en Acero | Longitud (Dimensional) | Bloques patrón longitudinales de grados de exactitud “0, 1, 2” según NMX-CH-3650 y grados “0, AS-1, AS-2” según ASME-B 89.1.9 2002. Variación de longitud | 0.508 mm a 101.6 mm | Temperatura (20 ± 0.5)°C | 0.024 a 0.034 | Bloques patrón de longitud de grado “K” Según la norma NMX CH-3650-2004 y grado 1 según la norma GGG-G-15C, Comparador Electromecánico TESA, resolución 0.02 µm | μm | Luis Ignacio García Márquez Azucena Hernández Sánchez |
Servicio de calibración de bloques patrón de longitud en Tungsteno | Longitud (Dimensional) | Bloques patrón longitudinales de grados de exactitud “0, 1, 2” según NMX-CH-3650 y grados “0, AS-1, AS-2” según ASME-B 89.1.9 2002. Desviación de longitud central | 0.508 mm a 101.6 mm | Temperatura (20 ± 0.5)°C | 0.073 a 0.15 | Bloques patrón de longitud de grado “K” Según la norma NMX CH-3650-2004 y grado 1 según la norma GGG-G-15C, Comparador Electromecánico TESA, resolución 0.02 µm | μm | Luis Ignacio García Márquez Azucena Hernández Sánchez |
Servicio de calibración de bloques patrón de longitud en Tungsteno | Longitud (Dimensional) | Bloques patrón longitudinales de grados de exactitud “0, 1, 2” según NMX-CH-3650 y grados “0, AS-1, AS-2” según ASME-B 89.1.9 2002. Variación de longitud | 0.508 mm a 101.6 mm | Temperatura (20 ± 0.5)°C | 0.024 a 0.034 | Bloques patrón de longitud de grado “K” Según la norma NMX CH-3650-2004 y grado 1 según la norma GGG-G-15C, Comparador Electromecánico TESA, resolución 0.02 µm | μm | Luis Ignacio García Márquez Azucena Hernández Sánchez |
| Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
| Longitud (Dimensional) | Indicadores de carátula (vástago recto) | 0 mm a 25.4 mm, resolución 0.01mm 1 mm a 101.6 mm, resolución 0.000 5 mm | Temperatura (20 ± 1)°C | (6.0+0.058L) L en mm (0.81+0.001L) L en mm | Calibrador de indicadores con resolución de 0.001 mm Máquina de medición Unidimensional con resolución de 0.01 µm | µm | Luis Ignacio García Márquez Azucena Hernández Sánchez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Medidores de altura analógicos, con escala vernier y digitales | 0 mm a 609.6 mm, resolución 0.01 mm | (20 ± 1)°C | (19+0.01L) L en mm | Bloques patrón de longitud de grado 0 y 1, según la norma NMX-CH-3650 y grado 1 según la norma ASME B89.1.9-2002 | µm | Luis Ignacio García Márquez Azucena Hernández Sánchez Ana Isabel Vega Ramírez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud | Medidor de espesores con indicador | 0 mm 25.4 mm, resolución 0.001 mm | Temperatura (20 ± 1)°C | (0.74+0.01L) L en mm | Bloques patrón de longitud de grado 0 y 1 Según la norma NMX CH-3650 y grado 1 según la norma ASME B89.1.9-2002 | μm | Azucena Hernández Sánchez Luis Ignacio García Márquez Ana Isabel Vega Ramírez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Micrómetros para medición de profundidad con escala vernier y digitales | 0 mm 25.4 mm, resolución 0.001 mm | Temperatura (20 ± 1)°C | (6.9+0.001L) L en mm | Bloques patrón de longitud de grado 0 y 1 Según la norma NMX CH-3650 y grado 1 según la norma ASME B89.1.9-2002 | μm | Luis Ignacio García Márquez Azucena Hernández Sánchez Ana Isabel Vega Ramírez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Piezas de geometría regular y compleja | X 620 mm Y 620 mm Z 420 mm resolución 0.000 1 mm | Temperatura (20 ± 1)°C | (3.0 + 0.012L) L en mm | Máquina de medición de coordenadas con resolución 0.000 1 mm | μm | Azucena Hernández Sánchez Luis Ignacio García Márquez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Ángulo (Dimensional) | Piezas de geometría regular y compleja | 0° a 360° | Temperatura (20 ± 1)°C | 0.005 3 | Máquina de medición de coordenadas con resolución 0.000 1 mm | ° | Azucena Hernández Sánchez Luis Ignacio García Márquez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Plano óptico y paralelas óptica | Hasta 152 mm de Diámetro resolución de 0.022 μm | Temperatura (20 ± 1)°C | ± 0.020 | Interferómetro Wyco y Plano Óptico con resolución de 0.022 μm | μm | Carlos Pérez Santos |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Comparadores ópticos desplazamiento de platina, ampificado y ángulo | Eje X 0 mm a 250 mm eje Eje Y de 0 a 200 mm en Resolución 0.001mm 5X hasta 100X de 0° a 360° , resolución 1′ | Temperatura (20 ± 1)°C | (1.7+0.001L) L en mm 0.042 2.9 | Regla graduada de vidrio de 250 mm con resolución 0.1 µm, plantilla de resolución. | μm. %, ‘ (de arco) | Azucena Hernández Sánchez Luis Ignacio García Márquez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Incertidumbre | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Escalas patrón (vidrio) | de 0 mm a 304.8 mm, grados 1 y 2 según JIS B 7541:2001 | Temperatura (20 ± 1)°C | (1.9+0.01L) L en mm | Sistema de medición por visión, con resolución de 0.001 mm | μm | Azucena Hernández Sánchez Luis Ignacio García Márquez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Tamiz (cribas) | de 0.075 mm a 50.8 mm | Temperatura (20 ± 1)°C | (2.7+0.012L) L en mm | Sistema de medición por visión, con resolución de 0.001 mm | μm | Azucena Hernández Sánchez Luis Ignacio García Márquez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Patrón de radio | Hasta 25.4 mm | Temperatura (20 ± 1)°C | 2.7 | Sistema de medición por visión, con resolución de 0.001 mm | μm | Azucena Hernández Sánchez Luis Ignacio García Márquez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Piezas de geometría regular y compleja | 0 mm a 311 mm | Temperatura (20 ± 1)°C | (2.7+ 0.003L) L en mm | Sistema de medición por visión, con resolución de 0.001 mm | μm | Azucena Hernández Sánchez Luis Ignacio García Márquez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Anillos patrón lisos diámetro | De 3 mm a 400 mm Clases “XX, X, Y, Z”ANSI / ASME B89.1.6 2002, Grados “0, 1, 2” DIN 2250-2008 | Temperatura (20 ± 0.5)°C | (0.72+ 0.002 L)L en mm | Máquina de medición Unidimensional con resolución de 0.01 µm , Set de anillos patrón lisos clase XX. | μm | Azucena Hernández Sánchez Luis Ignacio García Márquez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Anillos patrón lisos redondez | Hasta 200 mm Clases “XX, X, Y, Z”ANSI / ASME B89.1.6 2002,Grados “0, 1, 2” DIN 2250-2008 | Temperatura (20 ± 0.5)°C | 0.30 | Máquina de medición de redondez Resolución: 0.01 µm | μm | Azucena Hernández Sánchez Luis Ignacio García Márquez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Pernos patrón diámetro | Hasta 20 mm, Clases “0, 1 y 2” DIN 2269, Clases “, XX, X, Y, Z, ZZ” ASME B89.1.5 | Temperatura (20 ± 0.5)°C | (0.13+0.003L) L en mm | Máquina de medición Unidimensional con resolución de 0.01 µm | μm | Azucena Hernández Sánchez Luis Ignacio García Márquez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Pernos patrón redondez | Hasta 20 mm, Clases “0, 1 y 2″ DIN 2269,Clases ” XX, X, Y, Z, ZZ” ASME B89.1.5 | Temperatura (20 ± 0.5)°C | 0.30 | Máquina de medición de redondez Resolución: 0.01 µm | μm | Azucena Hernández Sánchez Luis Ignacio García Márquez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Discos y Tampones diámetro | Hasta 550 mm, Clases “0, 1 y 2″ DIN 2269, Clases ” XX, X, Y, Z, ZZ” ASME B89.1.5 1998 | Temperatura (20 ± 0.5)°C | (0.49 + 0.003 L) L en mm | Máquina de medición Unidimensional con resolución de 0.01 µm | μm | Azucena Hernández Sánchez Luis Ignacio García Márquez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Discos y Tampones redondez | Hasta 200 mm, Clases “0, 1 y 2″ DIN 2269, Clases ” XX, X, Y, Z, ZZ” ASME B89.1.5 1999 | Temperatura (20 ± 0.5)°C | 0.30 | Máquina de medición de redondez Resolución: 0.01 µm | μm | Azucena Hernández Sánchez Luis Ignacio García Márquez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Esfera patrón diámetro | hasta 550 mm, Clases “G3, G5,G6,G7,G8,G9,G10,G11,G12,G13 Y G14 según ASME B89.1.5 | Temperatura (20 ± 0.5)°C | (0.70 + 0.002 L) L en mm | Máquina de medición Unidimensional con resolución de 0.01 µm | μm | Azucena Hernández Sánchez Luis Ignacio García Márquez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Esfera patrón redondez | Hasta 200 mm, Clases “G3, G5,G6,G7,G8,G9,G10,G 11,G12,G13 Y G14 según ASME B89.1.5 | Temperatura (20 ± 0.5)°C | 0.30 | Máquina de medición de redondez Resolución: 0.01 µm | μm | Azucena Hernández Sánchez Luis Ignacio García Márquez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Roscas internas rectas | Diámetro interior de 3 mm a 500 mm, de los siguientes tipos: métricas 60° y unificadas desde 8 hilos/in hasta 5 hilos /in, con pasos desde 0.2 mm hasta 4 mm | Temperatura (20 ± 0.5)°C | (2.0+ 0.003 L) L en mm | Máquina de medición Unidimensional con resolución de 0.01 µm | μm | Azucena Hernández Sánchez Luis Ignacio García Márquez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Roscas externas rectas | Diámetro exterior ≤600mm de los siguientes tipos: métricas 60° y unificadas desde 8 hilos/in hasta 5 hilos /in, con pasos desde 0.2 mm hasta 4 mm | Temperatura (20 ± 0.5)°C | (1.0 + 0.003 L) L en mm | Máquina de medición Unidimensional con resolución de 0.01 µm | μm | Azucena Hernández Sánchez Luis Ignacio García Márquez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Piezas de geometría regular y compleja | Medición de exteriores de 0 a 550mm, medición de interiores ≥6mm y ≤400mm, piezas con masa de hasta 20kg | Temperatura (20 ± 0.5)°C | 0.36 | Máquina de medición Unidimensional con resolución de 0.01 µm | μm | Azucena Hernández Sánchez Luis Ignacio García Márquez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Piezas de geometría regular y compleja | Piezas con perfiles periódicos y aleatorios Sensores con alcance de medición hasta ± 2,5 mm de Amplitud, Resolución 0,001 µm (Ra, Rq) | Temperatura (20 ± 0.5)°C | 0.037 | Medidor de rugosidad 0.01 µm | μm | Azucena Hernández Sánchez Luis Ignacio García Márquez |
“Piezas con perfiles periódicos y aleatorios Sensores con alcance de medición hasta ± 2,5 mm de Amplitud, Resolución 0,001 µm (Ry, Rz)” | 0.12 | ||||||
Piezas con perfiles periódicos y aleatorios Sensores con alcance de medición hasta ± 2,5 mm de Amplitud, Resolución 0,001 µm | 0.14 |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Piezas de geometría regular y compleja | Eje Z ≤ 50 mm | Temperatura (20 ± 0.5)°C | 0.51 | Medidor de contornos Perfilometro 0.010 µm | μm | Azucena Hernández Sánchez Luis Ignacio García Márquez |
Eje X ≤ 200 mm | 1.1 | ||||||
Angulo ≤ 180° | 0.02 |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Micrómetro de Interiores con dos superficies de contacto | Hasta 508 mm, resolución de 0.001 mm | Temperatura (20 ± 0.5)°C | (0.81+0.001L) L en mm | Máquina de medición Unidimensional con resolución de 0.1 µm | μm | Azucena Hernández Sánchez Luis Ignacio García Márquez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Medidor de agujeros con dos superficies de contacto | de 6 mm a 608 mm, resolución de 0.001mm (alcance efectivo de medición de 50.8 mm | Temperatura (20 ± 0.5)°C | (0.81+0.001L) L en mm | Máquina de medición Unidimensional con resolución de 0.1 µm | μm | Azucena Hernández Sánchez Luis Ignacio García Márquez |
Magnitud | Instrumento de medida | Intervalo o punto de medida | Especificaciones | Valor numérico de la unidad | Patrón de medida | Unidad de medida | Signatarios |
Longitud (Dimensional) | Patrón de espesor Lainas (acero y plásticas) | de 0.01 mm a 3 mm | Temperatura (20 ± 0.5)°C | 0.20 | Máquina de medición Unidimensional con resolución de 0.1 µm | μm | Azucena Hernández Sánchez Luis Ignacio García Márquez |